国外质量与可靠性论文集 1994-2005年国外质量与可靠性精品贡献
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第一集
· “伽马——百分比剩余寿命”指标· 由几种失效模式电子元器件组成的电子系统的可靠性计算
· 目前通信卫星的可靠性记录· Maxim模拟产品可靠性报告
· 直流-直流交换器的可靠性试验结果· 有透镜的片式LED的可靠性数据
· 美国LEDTRONICS公司LED的可靠性试验数据· 8mm超小型7段显示器的可靠性数据
· 高性能CMOS 5×7字母数字显示器的可靠性数据· 4字符4.1mm智能字母数字显示器的可靠性数据
· 惠普公司十六进制数与数字显示器的可靠性数据· 飞利浦高速CMOS器件的可靠性数据
· 美国Microchip公司的器件可靠性数据摘要· Agilent功率MOSFET光耦合器的可靠性数据
· Agilent MSA系列MMIC放大器的可靠性数据· 钝化P型微波肖特基二极管的可靠性数据
· 表面安装PIN二极管的可靠性数据· 砷化镓肖特基二极管的可靠性数据
· 美国哈里斯半导体的可靠性数据· IEEE关于失效率预计的调查结果
· 美国国家半导体公司主要工艺的失效率· 人―机系统动作过程实验研究的方法
· 户外射频装置的可靠性试验项目和条件· 无线电电子设备高湿试验中的问题
· 用SPIDER评价注入损坏· 高温用电子硬件的试验
· 把失效物理加速试验方法扩展到LRU（线路可换装置）...· 以测量为基础的可靠性评价的必要性
· 可修复的整机产品剩余寿命的评估· 用故障附加累积的物理模型评估残余寿命
· 评估产品平均残余寿命的置信下限的非参数方法· 根据实验室的试验结果来评定飞行器无线电电子设备的...
· 用于硬件、软件和人的可靠性评价的定量模型比较研究· 电子设备可靠性评估方法的比较
· 美英两国近期完成的新式武器装备的可靠性试验项目· 英国R.N.电子设备有限公司的EMC试验
· 个人电子计算机的无故障性加速试验· 硬件和软件的加速应力试验
· 论电子设备的可靠性加速试验· 用等离子体蚀刻技术制造的器件的综合可靠性方法
· MAXIM公司的LCL7660系列塑封器件的可靠性报告· 使用电路板级测试的塑封微电路的鉴定
· 通过塑料部件涂层提高筛选可靠性· NASA塑封微电路减额、贮存与鉴定报告
· 航天用塑封微电路的试验流程· 导弹应用中塑封微电路验证可靠性
· 导弹用塑封微电路的可靠性论证――案例研究· 长期贮存的塑封微电路的加速试验
· 塑封微电路的环境试验· 塑封微电路的筛选
· 塑料封装的可靠性与试验· 马里兰大学的研究课题：表面安装电容器可靠性
· 半导体的圆片级可靠性测试· 圆片级老练
· 临时金属圆片级老练KGD· 一个新的裸芯片试验方法
· 单芯片试验和老练· 日本MCM／KGD开发活动概貌
· MCM市场的裸基片试验策略· 非易失性存储器可靠性的实验研究
 
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